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                  CISC半導體攜最新產品亮相2016深圳物聯網展并獲眾多好評

                  發布時間:2016-08-30

                    8月18日,為期三天的2016深圳物聯網展在深圳會展中心召開,奧地利CISC半導體在本次展會上亮相,展出了其最新的符合RAIN RFID標準的Xplorer UHF RFID讀寫器測試儀及標簽仿真器,不論在讀寫器性能層面還是在協議物理層面都能給出中肯而準確的測試結果,獲得了廣大客戶的好評。

                  CISC半導體攜最新產品亮相2016深圳物聯網展并獲眾多好評

                    同時,在展會現場還展出了高精度、便攜可靠的UHF標簽性能、規范性測試系統,其中方向性測試的演示也引起來往觀眾紛紛的關注。此次除了展出UHF的產品還展出了NFC相關的測試設備,其中覆蓋了NFC標簽性能、規范性及NFC設備互操作性測試等的實物及視頻演示。

                  CISC半導體攜最新產品亮相2016深圳物聯網展并獲眾多好評

                    在19日RFID應用創新大會上,CISC針對如何通過正確的測試保證RFID/NFC標簽及讀寫器的品質進行了深入的演講,帶給現場客戶更廣闊的測試思路和更先進的測量方法,獲得現場觀眾的整整掌聲。

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